Lihat sumber Pencirian (ilmu material)

Dalam [[ilmu material]], '''pencirian''' (, '''karakterisasi''') adalah proses umum yang menyelidiki dan mengukur struktur dan sifat-sifat suatu bahan atau material. Proses ini sangat penting di bidang ilmu dan teknik material, karena dibutuhkan agar bahan-bahan tersebut dapat dipahami secara ilmiah.<ref>Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar. ''Materials characterization techniques''. CRC Press. 2009. ISBN 1420042947.</ref><ref>Yang Leng. ''Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods''. Wiley. 2009. ISBN 978-0-470-82299-9.</ref> Skala struktur yang diamati dalam pencirian material berkisar dari sekecil ukuran [[angstrom]] (seperti pencitraan [[atom]] tunggal dan [[ikatan kimia]]) hingga sebesar beberapa sentimeter (seperti pencitraan struktur makroskopik pada logam).

Teknik pencirian seperti [[mikroskop cahaya]] biasa telah ada selama berabad-abad, tetapi teknik dan metode baru terus bermunculan. Pada abad ke-20 muncul penggunaan [[mikroskop elektron]] dan [[spektrometri massa ion sekunder]] yang memungkinkan pencitraan serta analisis terhadap struktur dan komposisi yang jauh lebih kecil dari sebelumnya, sehingga meningkatkan pengetahuan ilmiah mengenai penyebab sifat-sifat bahan.<ref>Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, University of Basel: ''Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zum Nanolabor'', p. 8</ref> [[Mikroskop gaya atom]] adalah salah satu penemuan terbaru yang meningkatkan resolusi yang mungkin diamati untuk analisis.<ref>[https://www.google.com/patents/US4724318?dq=4724318&hl=en&sa=X&ei=RByQU8KZFe_Q7AbK_4Fg&ved=0CCoQ6AEwAA Patent US4724318 - Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution - Google Patents]</ref>

== Lihat pula ==
* [[Pencirian nanopartikel]]

== Referensi ==
<references />

== Sumber dan atribusi ==

Konten artikel ini diadaptasi dari [https://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Pencirian+%28ilmu+material%29&oldid=16415747 Wikipedia bahasa Indonesia], revisi 16415747 (2020-01-04T15:16:23Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Mohon gunakan konten ini secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku.

<!-- WIKI_UNISSULA_PRESENTATION_V4 -->