Mikroskop transmisi elektron: Perbedaan antara revisi
Impor teks terkontrol dari Wikipedia bahasa Indonesia; revisi 28713741; atribusi sumber disertakan. |
Presentation V4: sitasi, referensi, Math, Wikimedia Commons, dan atribusi |
||
| Baris 1: | Baris 1: | ||
'''Mikroskop transmisi elektron''' (, disingkat '''TEM''') adalah teknik [[mikroskop]] di mana berkas elektron ditransmisikan melalui spesimen untuk membentuk gambar. Spesimen paling sering merupakan bagian yang sangat tipis dengan tebal kurang dari 100 nm atau suspensi pada bingkai. Sebuah gambar terbentuk dari interaksi elektron dengan sampel saat berkas ditransmisikan melalui benda uji. Gambar kemudian diperbesar dan difokuskan ke perangkat pencitraan, seperti layar fluoresen, lapisan [[film gulung]], atau sensor seperti kilau yang dipasang ke [[peranti tergandeng-muatan]]. | '''Mikroskop transmisi elektron''' (, disingkat '''TEM''') adalah teknik [[mikroskop]] di mana berkas elektron ditransmisikan melalui spesimen untuk membentuk gambar. Spesimen paling sering merupakan bagian yang sangat tipis dengan tebal kurang dari 100 nm atau suspensi pada bingkai. Sebuah gambar terbentuk dari interaksi elektron dengan sampel saat berkas ditransmisikan melalui benda uji. Gambar kemudian diperbesar dan difokuskan ke perangkat pencitraan, seperti layar fluoresen, lapisan [[film gulung]], atau sensor seperti kilau yang dipasang ke [[peranti tergandeng-muatan]]. | ||
TEM pertama didemonstrasikan oleh [[Max Knoll]] dan [[Ernst Ruska]] pada tahun 1931, dengan kelompok ini mengembangkan TEM pertama dengan resolusi lebih besar dari resolusi cahaya pada tahun 1933 dan TEM komersial pertama pada tahun 1939. Pada tahun 1986, Ruska dianugerahi Penghargaan Nobel bidang Fisika untuk pengembangan mikroskop transmisi elektron. | TEM pertama didemonstrasikan oleh [[Max Knoll]] dan [[Ernst Ruska]] pada tahun 1931, dengan kelompok ini mengembangkan TEM pertama dengan resolusi lebih besar dari resolusi cahaya pada tahun 1933 dan TEM komersial pertama pada tahun 1939. Pada tahun 1986, Ruska dianugerahi Penghargaan Nobel bidang Fisika untuk pengembangan mikroskop transmisi elektron.<ref>Ernst Ruska. ''The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy''. ''Applied Optics''. January 1980. Vol. 25 (6). hlm. 820. ISBN 978-3-7776-0364-3.</ref> | ||
== Pranala luar == | == Pranala luar == | ||
*[http://ncem.lbl.gov The National Center for Electron Microscopy, Berkeley California USA] | |||
*[http://ncem.lbl.gov The National Center for Electron Microscopy, Berkeley California USA] | |||
*[http://ncmi.bcm.tmc.edu The National Center for Macromolecular Imaging, Houston Texas USA] | *[http://ncmi.bcm.tmc.edu The National Center for Macromolecular Imaging, Houston Texas USA] | ||
*[http://nramm.scripps.edu/ The National Resource for Automated Molecular Microscopy, New York USA] | *[http://nramm.scripps.edu/ The National Resource for Automated Molecular Microscopy, New York USA] | ||
*[http://www.rodenburg.org/ Tutorial courses in Transmission Electron Microscopy] | *[http://www.rodenburg.org/ Tutorial courses in Transmission Electron Microscopy] | ||
== Referensi == | |||
<references /> | |||
== Sumber dan atribusi == | == Sumber dan atribusi == | ||
Konten artikel ini diadaptasi dari [https://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Mikroskop+transmisi+elektron&oldid=28713741 Wikipedia bahasa Indonesia], revisi 28713741 (2025-12-18T07:40:53Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Mohon gunakan konten ini secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku. | Konten artikel ini diadaptasi dari [https://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Mikroskop+transmisi+elektron&oldid=28713741 Wikipedia bahasa Indonesia], revisi 28713741 (2025-12-18T07:40:53Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Mohon gunakan konten ini secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku. | ||
<!-- WIKI_UNISSULA_PRESENTATION_V4 --> | |||
Revisi terkini sejak 27 Agustus 2026 14.11
Mikroskop transmisi elektron (, disingkat TEM) adalah teknik mikroskop di mana berkas elektron ditransmisikan melalui spesimen untuk membentuk gambar. Spesimen paling sering merupakan bagian yang sangat tipis dengan tebal kurang dari 100 nm atau suspensi pada bingkai. Sebuah gambar terbentuk dari interaksi elektron dengan sampel saat berkas ditransmisikan melalui benda uji. Gambar kemudian diperbesar dan difokuskan ke perangkat pencitraan, seperti layar fluoresen, lapisan film gulung, atau sensor seperti kilau yang dipasang ke peranti tergandeng-muatan.
TEM pertama didemonstrasikan oleh Max Knoll dan Ernst Ruska pada tahun 1931, dengan kelompok ini mengembangkan TEM pertama dengan resolusi lebih besar dari resolusi cahaya pada tahun 1933 dan TEM komersial pertama pada tahun 1939. Pada tahun 1986, Ruska dianugerahi Penghargaan Nobel bidang Fisika untuk pengembangan mikroskop transmisi elektron.[1]
Pranala luar
- The National Center for Electron Microscopy, Berkeley California USA
- The National Center for Macromolecular Imaging, Houston Texas USA
- The National Resource for Automated Molecular Microscopy, New York USA
- Tutorial courses in Transmission Electron Microscopy
Referensi
- ↑ Ernst Ruska. The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy. Applied Optics. January 1980. Vol. 25 (6). hlm. 820. ISBN 978-3-7776-0364-3.
Sumber dan atribusi
Konten artikel ini diadaptasi dari Wikipedia bahasa Indonesia, revisi 28713741 (2025-12-18T07:40:53Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Mohon gunakan konten ini secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku.