Fluoresensi sinar-X
Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni[1] seperti lukisan[2] dan mural.
Bombardir dengan sinar-X berenergi tinggi dan sinar gamma mengeksitasi elektron-elektron dari unsur yang diselidiki. Ketika elektron-elektron ini kembali ke keadaan dasar, sinar X-ray akan dipancarkan dengan energi tertentu.[3] Besar energi ini berbeda-beda tergantung unsur, sehingga dengan mendeteksi pancaran sinar X ini, peneliti dapat mengetahui unsur dalam suatu bahan.[4]
Catatan
Referensi
- ↑ De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings , Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20.
- ↑ X-Ray Fluorescence at ColourLex.
- ↑ Ronald Gautreau. Schaum's Outline of Modern Physics. Erlangga. 17 August 1999. hlm. 135. ISBN 978-979-781-824-1.
- ↑ Karl Wirth, Macalester College dan Andy Barth. X-Ray Fluorescence (XRF) . Carleton College.
Sumber dan atribusi
Konten artikel ini diadaptasi dari Wikipedia bahasa Indonesia, revisi 26240529 (2024-08-31T06:47:08Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Gambar pada artikel ini bersumber dari Wikimedia Commons dan mengikuti ketentuan lisensi masing-masing berkas. Mohon gunakan konten dan media secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku.