Pencirian (ilmu material)
Dalam ilmu material, pencirian (, karakterisasi) adalah proses umum yang menyelidiki dan mengukur struktur dan sifat-sifat suatu bahan atau material. Proses ini sangat penting di bidang ilmu dan teknik material, karena dibutuhkan agar bahan-bahan tersebut dapat dipahami secara ilmiah.[1][2] Skala struktur yang diamati dalam pencirian material berkisar dari sekecil ukuran angstrom (seperti pencitraan atom tunggal dan ikatan kimia) hingga sebesar beberapa sentimeter (seperti pencitraan struktur makroskopik pada logam).
Teknik pencirian seperti mikroskop cahaya biasa telah ada selama berabad-abad, tetapi teknik dan metode baru terus bermunculan. Pada abad ke-20 muncul penggunaan mikroskop elektron dan spektrometri massa ion sekunder yang memungkinkan pencitraan serta analisis terhadap struktur dan komposisi yang jauh lebih kecil dari sebelumnya, sehingga meningkatkan pengetahuan ilmiah mengenai penyebab sifat-sifat bahan.[3] Mikroskop gaya atom adalah salah satu penemuan terbaru yang meningkatkan resolusi yang mungkin diamati untuk analisis.[4]
Lihat pula
Referensi
- ↑ Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar. Materials characterization techniques. CRC Press. 2009. ISBN 1420042947.
- ↑ Yang Leng. Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley. 2009. ISBN 978-0-470-82299-9.
- ↑ Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, University of Basel: Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zum Nanolabor, p. 8
- ↑ Patent US4724318 - Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution - Google Patents
Sumber dan atribusi
Konten artikel ini diadaptasi dari Wikipedia bahasa Indonesia, revisi 16415747 (2020-01-04T15:16:23Z), yang tersedia berdasarkan lisensi Creative Commons Atribusi-BerbagiSerupa (CC BY-SA). Mohon gunakan konten ini secara bijak serta sesuai dengan ketentuan lisensi yang berlaku.